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威邦高温反偏栅偏老化一体机，该系统可进行室温＋10℃~200℃ 的高温反偏（HTRB）/栅偏（HTGB）可靠性测试和老化筛选。主要用于Si/SiC/GaN芯片的各种封装形式二极管、三极管、场效应管、可控硅、桥堆和 IGBT 单管等半导体分立器件高温反偏栅偏老化试验。
威邦高温反偏栅偏老化一体机，又称高温栅反偏老化测试系统，HTRB高温反偏老化箱，HTGB高温栅反偏老化测试系统等。该系统可进行室温＋10℃~200℃ 的高温反偏老化测试，老化过程中实时监测被测器件的漏电流状态、被测器件的电压状态，并根据需要记录老化试验数据，导出试验报表。满足Si/SiC/GaN芯片的各种封装形式二极管、三极管、场效应管、可控硅、桥堆和 IGBT 单管等半导体分立器件的高温反偏（HTRB）/栅偏（HTGB）可靠性测试和老化筛选。
| 型号Model | WBE-PDSHGB-16B10080N | ||||
| 系统参数 | 试验通道 | 16个试验通道 | |||
| 试验容量 | 80*16=1280位 | ||||
| 试验电源 | 标配8台试验电源，电源规格可选 | ||||
| 电源规格 | 有20V、100V、200V、300V、600V、1000V、1200V、2000V电源规格可供选择
（电源可手动设置，也可程序设置） |
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| 电压检测范围 | -100V～2000V, 精度：±1%±2LSB | ||||
| 电流检测范围 | 0.01uA～50mA | ||||
| 电流检测精度 | 1%±2LSB | ||||
| 基本功能 | 漏电流上限、试验电压上限、温度上限的设定；老化时间的设定；
实时监测并显示每通道的老化时间、老化进度、失效工位数等； 实时显示并记录保存老化参数（每工位IR、VR、Temp）； 实时判断是否超限，超限报警并记录超限工位及超限时间； 实时显示每工位的最大IR值，并显示最大IR值产生时间； 老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制漏电流变化曲线。 |
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| 上位机 | 工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标 | ||||
| 老化板 | 聚酰亚胺 (Polymide) 双面覆铜板, Tg=260℃, 铜厚：35μm | ||||
| 电网要求 | AC220V±10%，单相三线制 ，AC380V±10%，三相五线制，47Hz~63Hz±2Hz | ||||
| 系统体积 | W1315×H1980×D1335（mm） | ||||
| 重量 | 780Kg | ||||
| 高温试验箱 | 温度范围 | R.T~+200℃ | |||
| 温度精度 | ≤±1℃ | ||||
| 温度均匀度 | ≤±3℃ | ||||
| 温度波动度 | ≤0.4℃（200℃） | ||||
产品分类
EN
环境气候试验箱
推拉力测试机
力学材料试验机
行业专用检测设备
环境可靠性试验方案
半导体失效分析测试方案
