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环境气候试验箱
推拉力测试机
力学材料试验机
行业专用检测设备
环境可靠性试验方案
半导体失效分析测试方案
型号 WBE-LR2-150L
两箱式冷热冲击试验箱
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| 测试分类 | 可靠性及测试项目 | 简称 | 检测标准 |
| 环境可靠性测试 | 温度循环试验 | TCT | JEDEC JESD22-A104F.01,GB/T 2423.22-201 |
| 温度冲击试验（气槽式） | TST | MIL-STD-883K Method 1011.9 | |
| 温度冲击试验（液槽式） | TST | MIL-STD-883K Method 1011.9 | |
| 温湿度高加速应力老化试验 | UHAST | AEC-Q100,AEC-Q101,JEDEC JESD22-A118B.01 | |
| 高温高湿存储试验 | DH | AEC-Q100,AEC-Q101,JEDEC JESD22-A118B.01 | |
| 高压蒸煮试验 | PCT | IEC 60068-2-66,JEDEC JESD22-A102E | |
| 高温存储试验 | HTS | JEDEC JESD22-A103E.01 | |
| 低温存储试验 | LTS | JEDEC JESD22-A119A | |
| 盐雾试验 | NSS | IEC 60068-2-11:2021,GB/T2423.17-2024 | |
| 混合气体腐蚀 | FMG | IEC60068-2-60 | |
| 低气压 | LPT | IEC 60068-2-13 | |
| 残余气体成分分析 | RGA | MIL-STD-883K Method 1018 | |
| 封装完整性测试 | 粗/细检漏 | GFL | JEDEC JESD22-A109 M1014 |
| 机械冲击 | MS | JEDEC JESD22-B104 | |
| 机械振动 | WF | JEDEC JESD22-B103 | |
| 恒定加速度 | CA | MIL-STD-883K Method 2001.4 | |
| 绑线拉力强度测试 | WBP | MIL-STD-883K Method 2011.10 | |
| 绑线剪切力测试 | WBS | AEC-Q101-003, JEDEC JESD B116 | |
| 芯片剪切力测试 | DS | MIL-STD-883K Method 2019.10 | |
| 负载可靠性测试 | 高温反向偏压试验 | HTRB | AEC-Q101,AEC-Q102,JEDEC JESD22-A108G |
| 高温栅偏压试验 | HTGB | AEC-Q101,JEDEC JESD22-A108G | |
| 高温高湿反向偏压试验 | H3TRB | AEC-Q101,JEDEC JESD22-A101D.01 | |
| 高温加速负载老化 | HTOL | AEC-Q101,AEC-Q102,JEDEC JESD22-A108G.22 | |
| 温湿度高加速应力负载老化试验 | BHAST | AEC-Q100,AEC-Q101,JEDEC JESD22-A110E.01 | |
| 预处理和湿敏试验 | PC/MSL | JEDEC J-STD-020,JEDEC JESD22-A113 | |
| 功能测试 | 电参数测试 | E-test | / |
| 带宽测试 | BW-test | / | |
| 硅光测试 | Siph-test | / | |
| TDDB测试 | TDDB | JEDEC JEP159,JESD92 | |
| 静电测试 | 人体静电放电模型 | HBM | AEC-Q100,AEC-Q101, JEDEC JS-001 |
| 器件充电模型 | CDM | AEC-Q100,AEC-Q101,JEDEC JS-002 | |
| 闩索效应 | LU | AEC-Q100,AEC-Q101,JEDEC JESD78F.02 | |
| 机器模型 | MM | AEC-Q100,JESD22-A115 | |
| 动态可靠性测试 | DHTXB | AQG-324,JEDEC JEP-180 | |
| *以上试验方案持续更新，恕不另行通知 | |||
| 测试对象 | 试验标准 | 试验项目 | 试验设备 |
| 功率器件 | JESD22-A104 | 温度循环 TC | 两槽冷热冲击试验箱 |
| JESD22-A11 | 低温存储试验 LTSL | 超低温试验箱 | |
| GB/T 4937-1995 第Ⅲ 篇 2 GB/T 2424.19-2005 JESD22-A103C | 高温存储试验 HTS | 高温贮存试验箱 | |
| JESD22-A101C 5 | 稳态湿热试验 STH | H3TGB高温高湿反偏老化测试系统 | |
| AEC -Q101 JESD22A-101 | 高温高湿偏压 H3TRB | HTGB高温反偏老化测试系统 | |
| JESD22-A108 | 高温反偏 HTRB | ||
| JESD22A-108 AEC-Q101 | 高温栅反偏试验 HTGB | ||
| JESD22-A11 | 高压加速寿命试验 PCT | PCT高压蒸煮老化箱 | |
| JESD22-A110 | 高加速老化试验 HAST | HAST高压加速老化箱 | |
| JESD22-A110 | 不偏压高速老化 UHAST | UHAST 不偏压高压加速老化箱 | |
| GBT2423.17-93 | 盐雾腐蚀试验 SST | 复合式盐雾试验机 | |
| IGBT 模块 IPM 模块 SIC | JESD22-A104 | 温度循环 TC | 三槽冷热冲击试验箱 |
| JESD22-A11 | 低温存储试验 LTSL | 超低温试验箱 | |
| JESD22-A103C | 高温存储试验 HTS | 高温贮存箱 | |
| JESD22-A101C 5 | 稳态湿热试验 STH | 稳态湿热试验箱 | |
| AEC-Q101
JESD22A-101 |
高温高湿偏压 H3TRB | ||
| JESD22-A108 | 高温反偏 HTRB | ||
| JESD22A-108
AEC-Q101 |
高温栅反偏试验 | ||
| JESD22-A11 | 高压加速寿命试验 PCT | PCT高压蒸煮老化箱 | |
| JESD22-A110 | 高加速老化试验 | HAST高压加速老化箱 | |
| 分立器件 | GB/T 4937-1995 第Ⅲ 篇 1.1 GB/T 2423.22-2012 7 JESD22-A104D | 温度循环 TC | 三槽冷热冲击试验箱 |
| JESD22-A11 | 低温存储试验 LTSL | 高低温试验箱 | |
| JESD22-A103C | 高温存储试验 HTS | 精密高温老化箱 | |
| GB/T 4937-1995第Ⅲ篇 5 GB/T 2423.3-2006 JESD22-A101C | 恒温恒湿(H3TRB) | ||
| JESD22-A102-C | 高压蒸汽老化试验 | PCT高压蒸煮老化箱 | |
| *以上试验方案持续更新，恕不另行通知 | |||
| 测试类别 | 试验标准 | 试验项目 | 试验设备 |
| 封装组合完整性测试 | AEC Q100-001 | 绑线剪切WBS | 推拉力测试机 |
| MIL-STD 883；Method2011 | 绑线拉力WBP | 键合拉力测试机 | |
| JESD22-B102 | 可焊性DS | 剪切力测试机 | |
| AEC Q100-010 | 锡球剪切SBS | 剪切力测试机 | |
| JESD22-B105 | 引脚完整性LI | 引线键合强度测试机 | |
| 腔体封装完整性测试 | MIL-STD-883;Method2019 | 芯片剪切DS | 芯片剪切力测试机 |
| 加速环境应力测试 | J-STD-020；JESD22-A113 | 预处理PC | / |
| JESD22-A101；JESD22-A110 | 有偏温湿度或有偏高加速应力测试THB/HAST | HAST高压加速老化箱 | |
| JESD22-A102；JESD22-A118；JESD22-A101 | 高压或无偏高加速应力测试或无偏温湿度测试AC/ UHST /TH | HAST高压加速老化箱 | |
| JESD22-A104 | 温度循环TC | 冷热冲击试验箱 | |
| JESD22-A105 | 功率负载温度循环PTC | / | |
| JESD22-A103 | 高温储存寿命测试HTSL | 精密高温试验箱 | |
| 加速寿命模拟测试 | JEDEC JESD22-A108 | 高温工作寿命HTOL | / |
| AEC Q100-008 | 早期寿命失效率ELFR | / | |
| AEC Q100-005 | 非易失性存储器耐久EDR | / | |
| *以上试验方案持续更新，恕不另行通知 | |||
