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环境气候试验箱
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力学材料试验机
行业专用检测设备
环境可靠性试验方案
半导体失效分析测试方案
A：焊点接触电阻加大
B：焊点造成开路
C：变压器/线圈短路或短路
D：多层板开路或短路
E：电容器/电晶体不良或短路
F：变压器/线圈破损
G：电阻器破裂
H：电晶体出现变样裂纹
I：云母绝缘垫片破裂
J：云母绝缘垫片破裂
K：云母绝缘垫片破裂
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已有1017人咨询过该设备
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WBE非线性快速温变试验箱，又称非线性快速升降温试验箱、非线性温度快速变化箱、环境应力筛选（ESS）试验箱等。采用非线性（平均）温变模式，升降温速率最高可达25℃/min。用于电子元器件、汽车零部件等产品在快速温度变化条件下进行可靠性试验。
威邦非线性快速温变试验箱，又称非线性快速升降温试验箱、非线性温度快速变化箱、环境应力筛选（ESS）试验箱等。采用非线性（平均）温变模式，升降温速率最高可达25℃/min。用于检测出产品在快速温度变化和极限温度情况下的性能，广泛用于电子元器件、汽车零部件等产品在快速温度变化条件下进行可靠性试验。本试验箱可以选配液氮功能、湿热功能、防凝露功能等。
A：焊点接触电阻加大
B：焊点造成开路
C：变压器/线圈短路或短路
D：多层板开路或短路
E：电容器/电晶体不良或短路
F：变压器/线圈破损
G：电阻器破裂
H：电晶体出现变样裂纹
I：云母绝缘垫片破裂
J：云母绝缘垫片破裂
K：云母绝缘垫片破裂
A: 涂层/材料/线头裂纹扩大
B：粒子化学污染
C：密封失效
D：超差零与材质件
E：真空管在低温下内部开路
A：接头松弛
B：螺钉或接头松弛
C：焊接和熔接点接触不良
D：冷焊接点
E：处理不当造成材质的断裂刻痕
F：线圈金属片固定方式不当
G：没有接地的接头线
H: 元器件安装不当
I: 错用元器件
J：不当组装造成的短路
| 产品名称
Product |
型号
Model |
工作室容积
Volume |
温度变化范围
Temperature Variation Range |
升降温速率
Heating And Cooling Rate |
湿度范围
Hum.Range |
内箱尺寸（宽W*深D*高H）
Inner Size |
| WBE-KS系列
快速温变试验箱 （无湿度） |
WBE-KS100LA/C-X/F | 100（L） | A：-40~+155°C
C：-55~+155°C |
5°C/min（X：线性；F：非线性）
10°C/min（X：线性；F：非线性） 15°C/min（X：线性；F：非线性） 20°C/min（X：线性；F：非线性） 25°C/min（X：线性；F：非线性） 30°C/min（X：线性；F：非线性） |
/ | 500*400*500（mm） |
| WBE-KS150LA/C-X/F | 150（L） | 500*500*600（mm） | ||||
| WBE-KS225LA/C-X/F | 225（L） | 600*500*750（mm） | ||||
| WBE-KS315LA/C-X/F | 315（L） | 700*600*750（mm） | ||||
| WBE-KS408LA/C-X/F | 408（L） | 600*800*850（mm） | ||||
| WBE-KS512LA/C-X/F | 512（L） | 800*800*800（mm） | ||||
| WBE-KS1000LA/C-X/F | 1000（L） | 1100*900*1100（mm） | ||||
| WBE-KS2400LA/C-X/F | 2400（L） | 1300*1400*1300（mm） | ||||
| WBE-KS3400LA/C-X/F | 3400（L） | 1500*1500*1500（mm） | ||||
| WBE-KS4600LA/C-X/F | 4600（L） | 1800*1500*1700（mm） | ||||
| WBE-KS12000LA/C-X/F | 12000（L） | 2000*3000*2000（mm） | ||||
| WBE-KSH系列
快速温变（湿热）试验箱 （带湿度） |
WBE-KSH100LA/C-X/F | 100（L） | A：-40~+155°C
C：-55~+155°C |
5°C/min（X：线性；F：非线性）
10°C/min（X：线性；F：非线性） 15°C/min（X：线性；F：非线性） 20°C/min（X：线性；F：非线性） 25°C/min（X：线性；F：非线性） 30°C/min（X：线性；F：非线性） |
10%~98%R.h | 500*400*500（mm） |
| WBE-KSH150LA/C-X/F | 150（L） | 500*500*600（mm） | ||||
| WBE-KSH225LA/C-X/F | 225（L） | 600*500*750（mm） | ||||
| WBE-KSH315LA/C-X/F | 315（L） | 700*600*750（mm） | ||||
| WBE-KSH408LA/C-X/F | 408（L） | 600*800*850（mm） | ||||
| WBE-KSH512LA/C-X/F | 512（L） | 800*800*800（mm） | ||||
| WBE-KSH1000LA/C-X/F | 1000（L） | 1100*900*1100（mm） | ||||
| WBE-KSH2400LA/C-X/F | 2400（L） | 1300*1400*1300（mm） | ||||
| WBE-KSH3400LA/C-X/F | 3400（L） | 1500*1500*1500（mm） | ||||
| WBE-KSH4600LA/C-X/F | 4600（L） | 1800*1500*1700（mm） | ||||
| WBE-KSH12000LA/C-X/F | 12000（L） | 2000*3000*2000（mm） | ||||
| 可非标定制其它规格参数 | ||||||
| 性能参数 | 温度范围 | -70~+180℃ |
| 升降温速率 | A：-40~+155℃，C：-55~+155℃（可定制其它温变范围） | |
| 5、10、15、20、25、30℃/min（X线性，F非线性可选） | ||
| 温度波动度 | ≤±0.5℃ | |
| 温度均匀度 | ≤2.0℃ | |
| 温度偏差 | ≤±2.0℃ | |
| 湿度范围（KSH带湿度） | 10%～98%R.h | |
| 湿度波动度 | ≤±2.0%R.h | |
| 湿度均匀度 | ≤3.0%R.h | |
| 湿度偏差 | ≤±3.0％RH（＞75％RH），≤±5.0％RH（≤75％RH） | |
| 箱体材质 | 内箱 | SUS #304不锈钢 |
| 外箱 | 冷轧钢板+双面静电喷塑工艺处理，WBE威邦标准蓝灰 | |
| 冷却方式 | 水冷 | |
| 电源 | AC380V±10% 50HZ 3∮4W+E | |
| 型号说明 |  |
|
| 产品/试验规范 | 测试样品 | 高温 | 低温 | 温变率 | 循环数 | 备注 |
| MIL-STD-2164/GJB-1032-90
电子产品应力筛选 |
/ | 工作极限温度 | 工作极限温度 | 5℃/min | 10~12 | / |
| MIL-344A-4-16
电子设备环境应力筛选 |
设备或系统 | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | / |
| MIL-2164A-19
电子设备环境应力筛选方法 |
/ | 工作极限温度 | 工作极限温度 | 10℃/min | 10 | 驻留时间为内部达到指定温度10℃时 |
| NABMAT-9492
美军海军制造筛选 |
设备或系统 | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | 驻留时间为内部达到指定温度5℃时 |
| GJB/Z34-5.1.6
电子产品定量环境应力筛选指南 |
组件 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≥25 | 达到温度稳定的时间 |
| GJB/Z34-5.1.6
电子产品定量环境应力筛选指南 |
设备或系统 | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≥10 | 达到温度稳定的时间 |
| 笔记型电脑 | 主机板 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min | / | 达到温度稳定的时间 |
产品分类
